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    542系列 LGK光柵式測微頭細(xì)長型日本三豐測微儀

    更新時間：2024-11-25

    型號：542系列 LGK

    瀏覽量：2145

    光柵式測微頭細(xì)長型日本三豐測微儀 542系列LGK ● 沿襲了LGF的抗振性和抗沖擊性的細(xì)長型，橫截面只有LGF-110L-B的1/5。 ● 每種型號的分辨力可以在0.1μm, 0.5μm或1μm之間選擇。 ● 滑動的耐久性可至少使用1500萬次以上（三豐測試）。 ● 耐沖擊性：100G/11ms （IEC 60068-2-27）。
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